学术报告

报告内容：LEAP5000型三维原子探针（3DAP）简介及其在缺陷分析、晶粒取向差测定中的应用

报告人：翁军

时   间：6月2日（星期四）上午9:30-10:30

地   点：材料馆A楼323。

   欢迎各位老师和同学参加！

内容简介：三维原子探针显微术（3DAP），也称为原子探针断层分析术（APT），是一种具有原子级空间分辨率的测量和分析方法。基于“场蒸发”原理，三维原子探针通过在样品上施加一个强电压脉冲或者激光脉冲，将其表面原子逐一变成离子而移走并收集。3DAP的特性就是从最小的尺度来逐点揭示材料内部结构，不论简单亦或复杂，可以轻松获得纳米尺度结构的细节—化学成分和三维形貌，因而专门应对材料研发中令人棘手的小尺度结构的测量与分析问题。例如，沉淀相或团簇结构的尺寸、成份及分布；又比如元素在各种内界面（晶界、相界、多层膜结构中的层间界面等）的偏聚行为等等。该仪器可研究的对象涵盖金属、半导体、存储介质，到先进材料（纳米线、量子阱），再从无机材料到有机材料等广泛的材料类型；应用上从纯学术研究到汽车、航空发动机、核设施、半导体芯片、LED、光伏材料等等应用科学甚至直接的生产过程监控。