S-4800型高分辨场发射扫描电镜（简称S-4800）为日本日立公司于2002年推出的产品，电子发射源为冷场，物镜为半浸没式。S-4800利用电子束与物质相互作用产生的各种信号进行成像，对样品进行形貌和成份分析。该电镜在高加速电压（15kV）下，二次电子图像分辨率为1 nm；在低加速电压（1kV）下的二次电子图像分辨率为2nm，这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800主要应用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，可依靠搭载的附件-X射线能谱仪对材料表面微区成分进行定性和定量分析，以及元素分布分析。 主要用途如下： 1. 金属、陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察； 2. 金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定； 3. 纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析； 4. 对目标区域进行材料表面微区成分的定性和定量分析，以及元素分布分析。 备注：设备对高真空有严格的要求，因此对试样有严格要求。需要样品干燥稳定，故不适于观察含水，含油样品或释放其他挥发分的样品。
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